Questão
ID 3135394Disciplina: Engenharia Elétrica e Engenharia Eletrônica
Assuntos: Índices Técnicos e de Confiabilidade (DEC, FEC, DIC, FIC, DMIC, Taxa de Falha, Etc)
Ano: 2024 Banca: FGV - Fundação Getúlio Vargas Órgão: Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais
Quatro módulos de uma mesma placa eletrônica foram testados e os resultados estão listados a seguir.
a. Modulo 01; quantidade de falhas: 3; horas de teste: 2500.
b. Modulo 02; quantidade de falhas: 7; horas de teste: 2500.
c. Modulo 03; quantidade de falhas: 5; horas de teste: 2000.
d. Modulo 04; quantidade de falhas: 4; horas de teste: 1000.
Considere que cada placa é composta por um módulo de cada tipo, que as falhas de cada módulo são estatisticamente independentes e que os módulos da placa eletrônica podem ser representados como um sistema em série.
Com base nessas informações, estima-se que o MTTF (Tempo Médio até a Falha) e o MTBF (Média de Tempo Entre Falhas) da placa eletrônica sejam, respectivamente,