Questão
ID 1985652Disciplina: Engenharia Elétrica e Engenharia Eletrônica
Assunto: Circuitos Integrados
Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.
Na fabricação de circuitos integrados, algumas estruturas de teste podem ser usadas para avaliação do processo. Analise as
sentenças a seguir:
I) Para a correta avaliação do processo de fabricação de um CI, é sempre necessário realizar a caracterização de um
componente eletrônico.
II) É possível caracterizar partes de um processo de fabricação de CIs por meio de estruturas de teste visual.
III) Estruturas de inspeção visual têm como objetivo a avaliação exclusivamente qualitativa.
Estão corretas as sentenças:
sentenças a seguir:
I) Para a correta avaliação do processo de fabricação de um CI, é sempre necessário realizar a caracterização de um
componente eletrônico.
II) É possível caracterizar partes de um processo de fabricação de CIs por meio de estruturas de teste visual.
III) Estruturas de inspeção visual têm como objetivo a avaliação exclusivamente qualitativa.
Estão corretas as sentenças: