Questão
ID 1985517Disciplina: Engenharia Elétrica e Engenharia Eletrônica
Assunto: Dispositivos de Memória
Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.
Em uma linha de produção de circuitos integrados, os testes demandam uma grande parte do tempo e de homens-hora por
peça gastos no processo. Em contrapartida, é um passo essencial na cadeia produtiva, permitindo muitas vezes detectar
antecipadamente falhas no processo produtivo, evitando custos desnecessários. Com relação aos testes de semicondutores,
analise as seguintes sentenças e assinale a opção correta:
I) O BISR (Built-In-Self-Repair) é uma técnica muito utilizada na fabricação de memórias.
II) Na fabricação de memórias, quando estas apresentam um padrão de repetitividade de blocos funcionais, podem ser
criados blocos extras dentro do circuito que no caso de uma falha pontual podem substituir os blocos problemáticos.
peça gastos no processo. Em contrapartida, é um passo essencial na cadeia produtiva, permitindo muitas vezes detectar
antecipadamente falhas no processo produtivo, evitando custos desnecessários. Com relação aos testes de semicondutores,
analise as seguintes sentenças e assinale a opção correta:
I) O BISR (Built-In-Self-Repair) é uma técnica muito utilizada na fabricação de memórias.
II) Na fabricação de memórias, quando estas apresentam um padrão de repetitividade de blocos funcionais, podem ser
criados blocos extras dentro do circuito que no caso de uma falha pontual podem substituir os blocos problemáticos.