Questão
ID 1985432Disciplina: Engenharia Elétrica e Engenharia Eletrônica
Assunto: Circuitos Integrados
Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.
No contexto de design for debug and diagnosis (DFD), faz-se as seguintes afirmações.
I. O processo de diagnóstico e debug exige um alto grau de controlabilidade e observabilidade dos nós internos de um
circuito de forma que muitas das técnicas de DFT como scan são ajustadas para este fim. Exemplos deste tipo de
técnicas especialmente ajustadas para diagnóstico e debug são blocos lógicos e sinais de relógio reconfiguráveis.
II. A única forma de extrair as informações de debug e diagnóstico é através de cadeias de scan dedicadas para isto.
III. Pode-se empregar de focused ion beam (FIB) para a edição ou pequenos consertos em um circuito integrado visando
isolar ou corrigir possíveis defeitos.
I. O processo de diagnóstico e debug exige um alto grau de controlabilidade e observabilidade dos nós internos de um
circuito de forma que muitas das técnicas de DFT como scan são ajustadas para este fim. Exemplos deste tipo de
técnicas especialmente ajustadas para diagnóstico e debug são blocos lógicos e sinais de relógio reconfiguráveis.
II. A única forma de extrair as informações de debug e diagnóstico é através de cadeias de scan dedicadas para isto.
III. Pode-se empregar de focused ion beam (FIB) para a edição ou pequenos consertos em um circuito integrado visando
isolar ou corrigir possíveis defeitos.