Questão
ID 1985415Disciplina: Engenharia Elétrica e Engenharia Eletrônica
Assunto: Circuitos Integrados
Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.
O emprego de técnicas de projeto voltadas ao teste (DFT) pode auxiliar tanto no teste de dispositivos isolados (teste de
manufatura) como no teste de um sistema composto por vários dispositivos interconectados em uma placa de circuito
impresso. Neste sentido, para minimizar ou mesmo evitar o emprego de “camas de pregos” para teste e diagnóstico de falhas
em sistemas eletrônicos pode-se:
manufatura) como no teste de um sistema composto por vários dispositivos interconectados em uma placa de circuito
impresso. Neste sentido, para minimizar ou mesmo evitar o emprego de “camas de pregos” para teste e diagnóstico de falhas
em sistemas eletrônicos pode-se: