Questão 543750

Química · 2013

Questão

ID 543750

Disciplina: Química

Assunto: ESTRUTURA E PROPRIEDADES DA MATÉRIA

Ano: 2013 Banca: CETRO - Cetro Concursos Públicos Órgão: Agência Nacional de Vigilância Sanitária

A difratometria de raios X corresponde a uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicações em diversos campos do conhecimento. É correto afirmar que, na difratometria de raios X,

Alternativa A:
a intensidade de difração de raios X independe do número de elétrons dos átomos em um dado plano cristalino.
Alternativa B:
a difração de raios X está relacionada ao espalhamento elástico dos raios X incidentes sobre uma amostra.
Alternativa C:
as condições para que ocorra a difração de raios X vão depender apenas do comprimento de onda da radiação incidente.
Alternativa D:
a determinação de tamanho de cristalitos refere-se a uma medida direta, sem a necessidade de comparação com padrão ou calibração instrumental.
Alternativa E:
os planos de difração e suas respectivas distâncias interplanares, bem como as densidades de átomos, são características comuns a várias substâncias cristalinas.

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