Questão
ID 3530346Disciplina: Engenharia de Produção
Assunto: Controle Estatístico de Processo (CEP)
Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.
Qual componente do rendimento (yield) de um processo é independente da área do circuito integrado (die) sendo calculada
utilizando análise de aglomerados (cluster analysis)?
utilizando análise de aglomerados (cluster analysis)?