Questão
ID 3530337Disciplina: Engenharia de Produção
Assunto: Controle Estatístico de Processo (CEP)
Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.
A medida da razão entre a Precisão e a Tolerância de um equipamento de caracterização é um dos parâmetros críticos para a
qualificação de equipamentos de metrologia a serem utilizados em fábricas de semicondutores. Qual dos índices de qualidade
para um equipamento de medida é obtido através de medidas realizadas em condições idênticas?
qualificação de equipamentos de metrologia a serem utilizados em fábricas de semicondutores. Qual dos índices de qualidade
para um equipamento de medida é obtido através de medidas realizadas em condições idênticas?