Questão 3500157

Engenharia Química · 2012

Questão

ID 3500157

Disciplina: Engenharia Química

Assunto: Técnicas de Laboratório e de Caracterização de Materiais

Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.

Informação estrutural é muito importante tanto para o desenvolvimento de novos dispositivos, quanto para controle de
processos em microfabricação. Tendo em vista o uso de raios X em microeletrônica aponte qual afirmativa NÃO é
verdadeira dentre as seguintes alternativas:

Alternativa A: Através de difração de raios X é possível medir a tensão mecânica nas camadas de um dispositivo.
Alternativa B: O difratograma de raios X é usado para identificar quimicamente os elementos presentes nos filmes depositados.
Alternativa C: As espessuras de camadas epitaxiais em semicondutores avançados podem ser obtidas do seu difratograma de raios X
Alternativa D: Os tamanhos dos grãos das trilhas metálicas dos circuitos integrados podem ser medidos por difração de raios X.
Alternativa E: Através de difração de raios X o cristal de silício é orientado para o processo de fatiamento em wafers e identificação.

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Questão 3500157

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