Questão 3500091

Engenharia Química · 2012

Questão

ID 3500091

Disciplina: Engenharia Química

Assunto: Técnicas de Laboratório e de Caracterização de Materiais

Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.

A respeito do microscópio de feixe de íons focalizados – FIB – e seu uso em análise de falhas de circuitos integrados, podese
afirmar, EXCETO:

Alternativa A: O canhão de íons usualmente é de Ga⁺, com o Ga sendo suprido de uma fonte liquida.
Alternativa B: Imagens podem ser obtidas com o feixe de íons.
Alternativa C: Ao fazer uma imagem com o feixe de Ga⁺, a amostra é atacada.
Alternativa D: Com o feixe de íons é possível abrir vias em circuitos integrados prontos e acessar dispositivos, ou blocos funcionais, no
interior do CI.
Alternativa E: A ação do feixe de íons é altamente localizada, não deixando contaminação ou dano fora da região alvo.