Questão
ID 2948822Disciplina: Física
Assuntos: Física Experimental (Segurança, Técnicas de Laboratório e Precisão de Instrumentos)
Ano: 2007 Banca: CESPE CEBRASPE - Centro de Seleção e de Promoção de Eventos UnB Órgão: Instituto Nacional de Metrologia
Durante o século XX apareceram várias técnicas de microscopia de alta resolução, muitas delas designadas por siglas. Microscópio eletrônico de transmissão (MET), microscópio eletrônico de varredura (MEV), microscópio de tunelamento varredura (STM) e microscópio de força atômica (AFM) são aparelhos associados a algumas dessas técnicas. Em relação às microscopias eletrônica, de tunelamento varredura e de força atômica, julgue os itens que se seguem.
O princípio de funcionamento do AFM é a medida das deflexões da ponta de prova do microscópio enquanto essa ponta varre a superfície da amostra sob análise.