Questão 1985910

Física · 2012

Questão

ID 1985910

Disciplina: Física

Assunto: Física de Semicondutores

Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.

A elipsometria espectral pode ser utilizada para análise de oxidação e corrosão em semicondutores. Assinale a alternativa
que descreve o princípio dessa técnica de análise.

Alternativa A: O espectro de emissão de fótons característicos de átomos ionizados é uma elipse característica de cada elemento ou
substância.
Alternativa B: Os elétrons arrancados da superfície de uma amostra descrevem uma trajetória elíptica característica.
Alternativa C: Baseia-se a técnica na mudança de polarização da luz após a reflexão.
Alternativa D: Baseia-se a técnica na análise de elétrons Auger por um analisador elíptico.
Alternativa E: Baseia-se na absorção diferenciada da radiação polarizada em função da razão entre os eixos maior e menor de uma
elipse.

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