Questão 1985907

Física · 2012

Questão

ID 1985907

Disciplina: Física

Assuntos: Física Experimental (Segurança, Técnicas de Laboratório e Precisão de Instrumentos)

Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.

Abaixo são citadas algumas características e aplicações da técnica de feixes de íons focalizados. Assinale a alternativa que
NÃO está relacionada a essa técnica.

Alternativa A: Proporciona imageamento de alta resolução e capacidade de micro-usinagem.
Alternativa B: É aplicada na indústria de semicondutores para reparo e mascaramento de circuitos.
Alternativa C: As imagens obtidas por microscopia eletrônica de varredura fornecem um contraste, para cristais com diferentes
orientações, mais pobre do que a microscopia por feixe de íons focalizados.
Alternativa D: Quanto maior for a densidade de uma amostra, mais elétrons secundários induzidos por íons serão gerados.
Alternativa E: Um dos defeitos provocados pelo feixe de íons é a amorfização, observada somente em materiais metálicos.

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