Questão
ID 1985901Disciplina: Química
Assunto: Espectrometria de Massas
Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.
Observe as afirmativas abaixo.
I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons.
II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons.
III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo.
IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X.
As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativa
I – A amostra sob análise é submetida a um bombardeamento por um feixe de íons.
II – A amostra analisada é submetida a um feixe de elétrons.
III – Pode ser realizada em analisadores de massa de tempo de voo.
IV – Baseia-se na radiação emitida pela amostra após interagir com o feixe de raio-X.
As sentenças que se referem à espectrometria de massa por íons secundários são expressas na alternativa