Questão
ID 1985760Disciplina: Física
Assunto: Difração
Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.
Nos circuitos integrados, deseja-se determinar a fase em que se encontram os silicetos, utilizando-se, para isso, a
difratografia por raios-X. Essa técnica permite determinar
difratografia por raios-X. Essa técnica permite determinar