Questão
ID 1985634Disciplina: Física
Assunto: Índice de Refração
Ano: 2012 Banca: FUNRIO - Fundação de Apoio a Pesquisa, Ensino e Assistência Órgão: Centro Nacional de Tecnologia Eletrônica Avançada S.A.
Qual a técnica utilizada para medir a espessura e o índice de refração de filmes de óxido de Si, de nitreto de Si e de silício
policristalino, usados na tecnologia CMOS?
policristalino, usados na tecnologia CMOS?