Questão 1742595

Física · 2025

Questão

ID 1742595

Disciplina: Física

Assuntos: Física Experimental (Segurança, Técnicas de Laboratório e Precisão de Instrumentos)

Ano: 2025 Banca: VUNESP - Fundação para o Vestibular da Universidade Estadual Paulista Órgão: Universidade Estadual Paulista

Na Microscopia de Força Atômica (AFM), diferentes modos de operação são utilizados conforme o tipo de amostra e o tipo de informação que se deseja obter.

Sobre os modos de análise que são classificados em contato, dinâmico e fase, é correto afirmar que

Alternativa A:
no modo de contato, a ponta oscila próximo à frequência de ressonância para minimizar interação com a amostra.
Alternativa B:
o modo dinâmico é mais adequado para amostras rígidas e irregulares, pois exerce maior força sobre a superfície.
Alternativa C:
o modo de fase fornece informações sobre as propriedades da amostra, operando sem contato direto da ponta com a superfície.
Alternativa D:
o modo de contato obtém imagens de altíssima resolução e é o mais rápido entre os modos topográficos.
Alternativa E:
o modo de contato é o mais indicado para amostras macias e facilmente deformáveis.

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Questão 1742595

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